Beamfiler Basic光束质量分析仪特点以及功能

产品概述

光研科技自主研发的光束质量分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。

光束质量分析仪装置一体化设计，配套衰减方案设计，支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器，固体激光器，光纤激光器，超快激光器，激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广，性价比高，得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。

Beamfiler是一款用于Windows系统的激光光束分析产品。

  其特点以及功能包括： 1，高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓   2，支持Windows XP Service Pack 3或更高版本的操作系统   3，支持控制相机的曝光、增益和分辨率   4，实时进行光斑的伪彩色2D显示、长短轴的高斯曲线显示   5，支持2D模式下的连续缩放   6，测量光斑的长短轴、椭圆率、旋转角等参数   7，支持参数的统计分析   8，记录和导出参数，或者生成报告   9，读取光斑图片并测量参数   10，多选择的图片保存功能   11，支持USB3.0接口   12，可定制拓展功能   组成部件   传感器，配备数据连接线   Beamfiler操作软件   可选衰减配件

软件功能介绍

软件界面

衰减配件

Beamfiler Basic 光束质量分析仪 Beamfiler Basic光束质量分析仪不仅价格实惠，关键是能够帮助大家解决很多实用的问题，比如实验室里面的镜头参数检测测试，一些设备的透射光斑监测等等。 外形尺寸：

性能特点： 本产品像素大小3.45μm 光斑检测直径范围34.5μm~7mm 标配磁吸衰减，方便操作，可选更高功率衰减配置，功率范围可达1000W 支持手动和自动实时曝光及增益调节 高性价比，可代替进口激光光束质量分析仪，实现激光光斑检测及测试应用 典型应用： 需要对激光光斑形状进行检测得场合，如激光生产，维护以及激光应用； 光学器件质量检查； 激光腔镜调整； 外光路准直； 光纤对准耦合分析等。 产品参数：

编辑：黄飞