测厚仪的原理_测厚仪的技术特征

　　测厚仪

　　测厚仪（thicknessgauge）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。

　　这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

　　测厚仪的原理

　　超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

　　测厚仪的技术特征

　　1、专业——CHY-CB采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

　　2、高端——采用了Labthink***新研发的嵌入式计算机系统平台，其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。

　　3、智能——搭配了Labthink***新的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。

　　测厚仪的特点

　　在线实时扫描测量薄膜的厚度，实时反映生产过程中薄膜的厚度趋势，帮助反馈调节生产设备，实现更稳定一致的生产；

　　可输出横向纵、向趋势图、最打值、最小值、极差、ＣＰＫ等统计参数；

　　高精密厚度测量，重复精度达0.4nm；

　　可同时检测多层材料厚度；

　　适用于光滑表面透明膜厚度测量；

　　典型应用于：光学膜涂布、太阳能晶圆、超薄玻璃、胶带、Ｍylar膜、OCA光学胶、光阻等测量。